一、概述
RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。
■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案
■ 色坐标计算和薄膜特征解析
■ 模块化定制，支持在线集成应用
二、产品特点
■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；
■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；
三、产品应用
RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。
技术参数
更多详情咨询：
http://www.whyg88.com.cn/Products-34757135.html
https://www.chem17.com/st445418/product_34757135.html